ZEISS scatterControl

Izjemna kakovost slik CT

Strojna rešitev za optimizirano kakovost slike

Modul ZEISS scatterControl bistveno izboljša kakovost slike in kar najbolj zmanjša razpršenost artefaktov pri CT-posnetkih. Te izboljšave olajšajo nadaljnje korake obdelave in vrednotenja podatkov za ustrezne dele, kar omogoča še natančnejše določanje površine in analizo napak. Izdelek je idealen za zelo goste dele z veliko prostornino, kot so aditivno izdelani kovinski deli in deli iz aluminijaste litine ter tudi jekleni vložki, in druge sklope, ki vsebujejo gostejše materiale.

Modul je na voljo za sistem ZEISS METROTOM 1500 225 kV G3, bodisi kot rešitev za naknadno opremljanje bodisi v sklopu nakupa novega sistema. Nadgradite svoj sistem s ZEISS scatterControl in izkoristite vrhunsko kakovost slike za lažje vrednotenje podatkov.

Boljša kakovost slike, boljše odkrivanje napak

ZEISS scatterControl bistveno izboljša kakovost slike CT z zmanjšanjem pojava artefaktov, ki jih povzroča razpršeno sevanje. Povečan je kontrast med različnimi komponentami, s tem pa se poenostavi odkrivanje napak: Zdaj je mogoče oceniti območja delov, ki jih je bilo prej skoraj nemogoče.
Izboljšano določanje površine

ZEISS scatterControl ne izboljša le odkrivanja napak, temveč tudi splošno kakovost določanja površin. To je velika prednost za meroslovne aplikacije na zahtevnih delih, kjer artefakti motijo postopek določanja površine, če jih ne popravimo.
Hitro skeniranje z načinom VAST

ZEISS scatterControl deluje v načinu skeniranja »Stop and Go« in VAST. Rešitev scatterControl zagotavlja vrhunsko kakovost slik pri računalniški tomografiji s konusnim snopom, ki je primerljiva s kakovostjo slik pri računalniški tomografiji s pahljačastim snopom, vendar tudi s 1000-krat krajšim časom skeniranja.
Enostavna uporaba

ZEISS scatterControl je rešitev z enim klikom. Modul deluje brezhibno z drugimi uporabnimi funkcijami sistema METROTOM OS, kot so VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) ali VolumeMerge, in je popolnoma integriran v programsko opremo.

ZEISS scatterControl za boljšo analizo napak

ZEISS scatterControl bistveno izboljša kakovost slik CT-posnetkov za različne dele in industrije. Za to obstajajo jasni razlogi, od učinkovitega odstranjevanja artefaktov do postavitve modula glede na obdelovanec, s tem pa je ZEISS scatterControl idealna izbira. Spodaj si preberite, kako lahko modul uporabite za odlično odkrivanje in analizo napak.

Zmanjšanje števila artefaktov za boljšo kakovost slik CT

S ZEISS scatterControl je razlika očitna. Z drsnikom lahko primerjate kakovost rentgenske slike, ki jo je mogoče doseči z modulom scatterControl in brez njega. Izboljšana slika ima večji kontrast in manj artefaktov, zaradi česar so podrobnosti veliko jasnejše.

Vrhunska kakovost zaradi pozicioniranja modulov

ZEISS scatterControl zagotavlja vrhunsko kakovost v primerjavi s podobnimi izdelki zaradi svojega načina delovanja: Nameščen je med cevjo in detektorjem. Manjše predmete, kot so gosti deli iz aditivne proizvodnje, je mogoče postaviti pred modul, večje predmete pa za njim. Deluje v obeh primerih. Poleg tega vgrajeni senzor trka in izpopolnjena programska oprema za napovedovanje trkov učinkovito preprečujeta trke.

Idealno za različne dele in industrije

Livarna: Masivni deli iz aluminija ali magnezija, tudi z jeklenimi vložki
Avtomobilska industrija: Ulitki z jeklenimi vložki, močnostna elektronika
Aditivna proizvodnja: Gosti, kovinsko tiskani deli

Izboljšan 3D-pregled

Izboljšave podatkov o prostorninah omogočajo veliko lažje ocenjevanje. 3D-površine je mogoče določiti in prikazati brez motečih artefaktov. Številni artefakti so običajno posledica razpršenega sevanja in povzročajo navidezne površine v 3D-posnetku, ki ovirajo natančne meritve.

Programska oprema za zanesljivo rentgensko pregledovanje

Programska oprema ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) zanesljivo odkriva tudi najmanjše napake – za brizgane, medicinske, aditivno izdelane komponente in drugo.

Izvedite več

Deli, za katere se najbolj uporablja modul ZEISS scatterControl, so na primer masivni deli iz aluminija ali magnezija, ulitki z jeklenimi vložki, področje močnostne elektronike ter gosti in kovinsko tiskani deli.
ZEISS scatterControl je rešitev z enim klikom. Zaščita pred trki programske in strojne opreme je že integrirana, kar pomeni, da lahko postopek skeniranja začnete brez dodatnih ukrepov.
Da, ZEISS scatterControl je idealna rešitev za naknadno opremljanje za sistem ZEISS METROTOM 1500 G3. Za izboljšanje vašega sistema CT z modulom scatterControl bodo morda potrebne posodobitve, na primer za sistem METROTOM OS.

Obrnite se na nas

Želite podrobneje raziskati naše izdelke ali storitve? Z veseljem vam ponudimo več informacij ali predstavitev v živo, na daljavo ali osebno.

Trgovina ZEISS Metrology Shop

Enostavno naročanje tipal, merilnih pripomočkov in še več

ZEISS Metrology Portal

Pridobite dostop do celotnega nabora sistemskih in programskih storitev

ZEISSOVA meroslovna akademija

Vaše prilagojeno meroslovno usposabljanje, na voljo v različnih oblikah

Potrebujete več informacij?

Obrnite se na nas. Naši strokovnjaki vam bodo odgovorili.

Obrazec se nalaga ...

Naslednji korak:

Vprašalnik o zanimanju
Osebni podatki
Podrobnosti o podjetju

Če želite več informacij o obdelavi podatkov v družbi ZEISS, preberite naše Obvestilo o varstvu podatkov.

ZEISS scatterControl

Izjemna kakovost slik CT

Strojna rešitev za optimizirano kakovost slike

Kakšne so prednosti strojne opreme ZEISS scatterControl

Boljša kakovost slike, boljše odkrivanje napak

Izboljšano določanje površine

Hitro skeniranje z načinom VAST

Enostavna uporaba

ZEISS scatterControl za boljšo analizo napak

Zmanjšanje števila artefaktov za boljšo kakovost slik CT