ZEISS WEBINAR

X-Ray + AI = prihodnost analize

10:00 - 10:45
Prične se čez
Ongoing Stay Tuned for next time
Ended Stay Tuned for next time
  • 00 let
  • 00 mesecev
  • 00 dni
  • 00 ur
  • 00 minut
  • 00 sekund

Neporušna analiza kompleksnih komponent s CT in AI

Webinar je namenjen strokovnjakom in odločevalcem v industriji plastike, livarstvu ter vsem podjetjem, ki pri svojem delu uporabljajo ali razvijajo kompleksne oziroma sestavljene komponente. Posebej je relevanten za oddelke razvoja, kakovosti, proizvodnje, tehnologije in kontrole kakovosti, kjer so notranje napake, strukture in sestavi ključni za zanesljivost izdelkov.

Primeren je tako za podjetja, ki se s 3D X-Ray in CT tehnologijo šele spoznavajo, kot tudi za tista, ki že izvajajo neporušne analize in želijo svoje postopke pospešiti, avtomatizirati ali nadgraditi z umetno inteligenco.

SPOZNALI BOSTE:

  • kaj vse omogoča 3D X-Ray analiza

  • kako AI pomaga pri zaznavanju napak

  • kako izgleda analiza v praksi na realnih primerih strank

  • Družina izdelkov ZEISS METROTOM zagotavlja visoko natančnost meritev notranjih in zunanjih struktur za neporušitveno preskušanje komponent in sklopov.

  • ZADD Segmentation - Pregled napak na podlagi umetne inteligence za računalniško tomografijo​.

  • S ZEISS INSPECT X-Ray programsko opremo vizualizirajte in analizirajte svoje dele vse do jedra z uporabo CT podatkov.

V sodobni industriji postajajo izdelki vse bolj kompleksni, tolerance vse strožje, hkrati pa je čas za razvoj in lansiranje izdelkov vse krajši. Klasične metode kontrole pogosto ne omogočajo vpogleda v notranjost izdelkov ali pa zahtevajo destruktivne postopke, ki niso primerni ne za serijsko proizvodnjo ne za razvojne faze.

Na webinarju boste spoznali, kako lahko s pomočjo 3D X-Ray in računalniške tomografije (CT) izvedete natančno, ponovljivo in popolnoma neporušno analizo notranjih struktur, napak in sestavov – brez rezanja, razstavljanja ali uničenja izdelka. Tehnologija temelji na zajemu velikega števila rentgenskih posnetkov iz različnih kotov, ki se s pomočjo programske opreme rekonstruirajo v natančen 3D volumenski model pregledovanega izdelka.

CT analiza omogoča vpogled v notranje strukture, zaznavanje poroznosti, razpok, vključkov in drugih napak, analizo sestavljenih komponent brez razstavljanja ter hkratno merjenje notranjih in zunanjih geometrij. Poleg tega omogoča primerjavo s CAD modeli in natančno analizo odstopanj. Zaradi teh prednosti se CT rešitve danes uporabljajo v razvoju, vhodni, procesni in končni kontroli kakovosti – predvsem tam, kjer klasične metode ne zadoščajo.

Ključen del vsake CT rešitve je programska oprema za analizo podatkov, ki poleg vizualizacije omogoča natančno merjenje, analizo in dokumentiranje rezultatov. Z vključevanjem umetne inteligence (AI) je mogoče avtomatsko prepoznavati napake in nepravilnosti, bistveno pohitriti obdelavo velikih količin podatkov ter zmanjšati vpliv subjektivne interpretacije, kar vodi do večje ponovljivosti in zanesljivosti analiz. 

Predavatelj

Rok Lušina
Systems Engineer
Application Service
ZEISS Industrial Quality Solutions

 

Zagotovite si mesto na webinarju

Prijava je hitra in brezplačna

Izpolnite obrazec spodaj in izvedite več o ZEISS X-Ray rešitvah na našem webinarju v slovenskem jeziku.

Obrazec se nalaga ...

/ 4
Naslednji korak:
  • Osebni podatki
  • Podrobnosti o podjetju

Če želite več informacij o obdelavi podatkov v družbi ZEISS, preberite naše obvestilo o varstvu podatkov.